膜厚仪_科瑞仪器

真空仪表

膜厚仪
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Inficon
Inficon真空测量 Inficon薄膜沉积 LINXON myRGA LINXON LX218

Edwards

膜厚测试仪是一种用于测量各类薄膜材料厚度的精密仪器，广泛应用于工业生产、质量控制和科学研究领域。这类仪器通过不同的物理原理实现非接触或接触式测量，能够准确获取从纳米级到毫米级不同厚度范围的薄膜数据。膜厚测量的精确性直接影响产品质量，因此在半导体、光学镀膜、汽车制造等行业具有不可替代的作用。根据工作原理的不同，膜厚测试仪主要分为光学式、超声波式、涡流式和机械接触式等几大类。

SQC-310顺序薄膜沉积控制器

SQC-310
连续沉积 (SQC-310) 或共沉积 (SQC-310C)

STM-2 USB Thin Film Rate/ Thickness Monitor

STM-2 USB

经济型单晶体传感器

前装式单晶体传感器

Inficon Inficon真空测量Inficon薄膜沉积LINXON myRGALINXON LX218

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Inficon
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