| 探测器类型 |
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| 一般特征 |
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| 选项 |
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| 气体连接 |
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| 载体压力要求 |
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| 工作温度 |
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| 电源 |
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| 功率 |
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| 重复性 |
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| LDL |
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| LOQ |
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| 长期稳定性 & 漂移 |
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| 线性度 |
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本页产品简介说明：为工业和实验室应用设计，MultiDetek2测量多种痕量杂质，拥有较多的配置。基于LDetek等离子发射探测器，具有FID和TCD传感器的型号可以测量更多项目。 MultiDetek2使用氩气、氦气或氮气作为载气。；拥有宽泛的从Sub-ppb至%的测量范围。色谱仪配有操作简单的用户友好型的8.4”……详情请查看对应栏目。
本页“应用范围”栏目列出：散装工业气体生产的痕量杂质测量；电子和半导体的痕量杂质测量；热等静压（HIP）铸钢过程中高纯氩气杂质测量；实验室研究中监测温室气体；过程控制或实验室条件下气体分析；高纯氧和空气中检测痕量碳氢化合物；水果和花卉生产中监测CO2气体；饮料行业CO2质量监测
本页“产品特点”栏目列出：可以根据应用要求预先配置，设备随时可用；可以测量多种痕量杂质；多个探测器：PED， TCD 和 FID；测量范围宽泛，从 sub-ppb 至 %；以氩气，氦气和氮气为载气的PPB灵敏度 (PlasmaDetek)；使用简单，维护方便，配有大屏幕界面，键盘连接，易于访问的面板。；以太网连接，允许远程操……详情请查看对应栏目。
建议先确认用途、使用环境、所需规格和接口要求，再结合本页资料核对具体型号。
请提供使用场景和所需配置，通过本页电话或“我要咨询”入口联系技术人员。
